| 試験と検査 | 最小サンプルサイズ | レベル |
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| バッチ数量は200個以上 | ロット数量：1～199個（注1参照） |
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| 必要なテスト |
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| Aレベル |
| 契約書とカプセル化 |
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| A1 |
| 契約書およびパッケージの検査（4.2.6.4.1）（非破壊検査） | 全て | 全て |
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| 外観検査 |
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| A2 |
| a. 全体（4.2.6.4.2.1）（非破壊） | 全て | 全て |
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| b. 詳細（4.2.6.4.2.2）（非破壊的） | 122個 | 122個または全部（バッチ数量は122個未満） |
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| 再入力と改修（ロスあり） | 注2を参照 | 注2を参照 | A3 |
| 型付けのための溶媒テスト（4.2.6.4.3A）（非可逆） | 3個 | 3個 |
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| 改修のための溶剤試験（4.2.6.4.3B）（損失あり） | 3個 | 3個 |
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| X線検出 |
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| A4 |
| X線検出（4.2.6.4.4）（非破壊） | 45個 | 45個または全部（バッチ数量は45個未満） |
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| 鉛検出（XRFまたはEDS/EDX） | 注3を参照 | 注3を参照 | A5 |
| XRF（ロスレス）またはEDS/EDX（ロスあり）（4.2.6.4.5）（付録C.1） | 3個 | 3個 |
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| オープンカバー内部解析（非可逆） | 注6を参照 | 注6を参照 | A6 |
| カバーを開く (4.2.6.4.6) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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| 追加テスト（会社と顧客の双方の合意） |
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| 再入力と改修（ロスあり） | 注2を参照 | 注2を参照 | A3オプション |
| 走査型電子顕微鏡（4.2.6.4.3C）（非可逆） | 3個 | 3個 |
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| 表面定量分析（4.2.6.4.3D）（非破壊） | 5個 | 5個 |
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| 熱試験 |
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| Bレベル |
| 熱サイクル試験（附属書C.2） | 全て | 全て |
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| 電気特性試験 |
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| Cレベル |
| 電気試験（付録C.3） | 116個 | 全て |
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| 老化試験 |
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| Dレベル |
| バーンイン試験（試験前と試験後）（付録C.4） | 45個 | 45個または全部（バッチ数量は45個未満） |
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| 気密性の確認（最小リーク率と最大リーク率） |
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| Eレベル |
| 気密性の確認（最小および最大漏れ率）（付録C.5） | 全て | 全て |
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| 音響スキャンテスト |
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| Fレベル |
| 音響走査顕微鏡（付録C.6） | ルールによって | ルールによって |
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| 他の |
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| Gレベル |
| その他のテストと検査 | ルールによって | ルールによって |
注記:
1. 10 個未満のバッチの場合、Cognizant エンジニアは、テストの品質と顧客の同意を条件に、独自の裁量で「損失のある」テストのサンプル サイズを 1 個に減らすことができます。
2. 再タイプおよび改修テスト用のサンプルは、「外観テスト - 詳細テスト」のバッチから選択できます。
3. 「外観テスト - 詳細テスト」のバッチから鉛テストサンプルを選択できます。
4. オープンカバーテストサンプルは、「再タイプおよび改修テスト」を受けているバッチから選択できます。
