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電子製品の品質検査 信頼性

電子製品の品質検査 半導体デバイスの信頼性検査

電子技術の発展に伴い、機器に使用される電子部品の数は徐々に増加しており、電子部品の信頼性に対する要求もますます高まっています。電子部品は電子機器の基盤であり、電子機器の高い信頼性を確保するための基礎資源であり、その信頼性は機器の稼働効率の最大限の発揮に直接影響します。より深く理解していただくために、以下の内容を参考として提供します。

信頼性スクリーニングの定義:

信頼性スクリーニングは、特定の特性を持つ製品を選択したり、製品の初期故障を排除したりするための一連のチェックとテストです。

信頼性スクリーニングの目的:

1: 要件を満たす製品を選択します。

2:製品の初期不良をなくす。

信頼性スクリーニングの重要性:

コンポーネントのバッチの信頼性レベルは、初期故障製品を選別することによって改善できます。通常の条件下では、故障率は半分から 1 桁、さらには 2 桁減少する可能性があります。

シュレッド

信頼性スクリーニング機能:

(1) 欠陥がなく性能が良好な製品の場合は非破壊検査ですが、潜在的な欠陥がある製品の場合は故障を誘発する必要があります。

(2) 信頼性審査は抜き取り検査ではなく全数検査となります。スクリーニング テストの後は、新しい故障モードやメカニズムをバッチに追加しないでください。

(3) 信頼性スクリーニングでは製品本来の信頼性を向上させることはできません。ただし、バッチの信頼性を向上させることができます。

(4)信頼性スクリーニングは、一般に複数の信頼性試験項目から構成されます。

信頼性スクリーニングの分類:

信頼性審査は、日常審査と特殊環境審査に分けられます。

一般的な環境条件下で使用される製品は日常的なスクリーニングのみを受ける必要がありますが、特殊な環境条件下で使用される製品は日常的なスクリーニングに加えて特別な環境スクリーニングを受ける必要があります。

実際のスクリーニングの選択は、主に製品の故障モードとメカニズム、さまざまな品質グレードに応じて、信頼性要件または実際の使用条件とプロセス構造を組み合わせて決定されます。

定期的なスクリーニングは、スクリーニングの特性に従って分類されます。

① 検査とスクリーニング:顕微鏡検査とスクリーニング。赤外線による非破壊スクリーニング。ピンド。X線非破壊スクリーニング。

② 封止スクリーニング:液浸漏れスクリーニング。ヘリウム質量分析によるリーク検出スクリーニング。放射性トレーサーの漏洩スクリーニング;湿度試験によるスクリーニング。

(3)環境ストレススクリーニング:振動、衝撃、遠心加速度スクリーニング。温度ショックスクリーニング。

(4) 寿命スクリーニング:高温保管スクリーニング。電力老化スクリーニング。

特別な使用条件によるスクリーニング - 二次スクリーニング

成分の審査は「一次審査」と「二次審査」に分かれます。

部品メーカーがユーザーに納入する前に、部品の製品仕様(一般仕様、詳細仕様)に基づいて行う検査を「一次検査」といいます。

部品調達後、使用要件に応じて部品使用者が行う再審査を「二次審査」といいます。

二次スクリーニングの目的は、検査またはテストを通じてユーザーの要件を満たすコンポーネントを選択することです。

(二次審査)応募範囲

部品メーカーが「ワンタイムスクリーニング」を実施していない、またはユーザーが「ワンタイムスクリーニング」の項目を具体的に理解しておらずストレスを感じている

部品メーカーは「1 回限りのスクリーニング」を実施しましたが、「1 回限りのスクリーニング」の項目またはストレスは、コンポーネントに対するユーザーの品質要件を満たすことができません。

部品の仕様に特別な規定はなく、部品メーカーが選別条件を伴う特別な選別項目を設けていない

部品の製造元が契約書や仕様書の要​​求事項に従って「1回のスクリーニング」を実施しているか、または請負業者による「1回のスクリーニング」の正当性に疑問があるかどうかを確認する必要がある部品

特別な使用条件によるスクリーニング - 二次スクリーニング

「二次スクリーニング」の検査項目は、一次スクリーニングの検査項目を参考にして、適切にカスタマイズすることができます。

二次審査項目の順序を決定する原則は次のとおりです。

(1) 低コストの検査項目を最初にリストアップする必要があります。これにより、高価な検査装置の数を減らすことができ、コストを削減できるためです。

(2) 前者に整理された検査項目は、後者の検査項目で部品の欠陥を明らかにするのに役立つものでなければなりません。

(3) シール試験と最終電気試験のどちらが先かどちらが後かについては慎重に検討する必要があります。電気的試験に合格した後、密封試験後に静電気損傷やその他の理由でデバイスが故障する可能性があります。密閉テスト中の静電気保護対策が適切であれば、通常、密閉テストは最後に行う必要があります。