| 試験と検査 | 最小サンプルサイズ | レベル |
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| バッチ数量は200個以上です | バッチ数量: 1 ～ 199 個 (注 1 を参照) |
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| 必要な検査 |
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| レベル |
| 契約テキストとカプセル化 |
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| A1 |
| 契約書の本文および包装の検査 (4.2.6.4.1) (非破壊) | 全て | 全て |
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| 外観検査 |
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| A2 |
| ａ．全体 (4.2.6.4.2.1) (非破壊) | 全て | 全て |
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| b.詳細 (4.2.6.4.2.2) (非破壊) | 122個 | 122個またはすべて(バッチ数量が122個未満) |
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| 再入力と修復（損失あり） | 注2を参照 | 注2を参照 | A3 |
| タイピング用の溶媒テスト (4.2.6.4.3A) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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| 改修用の溶剤テスト (4.2.6.4.3B) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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| X線検出 |
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| A4 |
| X 線検出 (4.2.6.4.4) (非破壊) | 45個 | 45 個またはすべて (バッチ数量が 45 個未満) |
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| 鉛検出 (XRF または EDS/EDX) | 注3を参照 | 注3を参照 | A5 |
| XRF (ロスレス) または EDS/EDX (ロッシー) (4.2.6.4.5) (付録 C.1) | 3個 | 3個 |
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| オープンカバー内部解析（非可逆） | 注6を参照 | 注6を参照 | A6 |
| オープンカバー (4.2.6.4.6) (損失あり) | 3個 | 3個 |
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| 追加のテスト (会社と顧客の両方が同意) |
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| 再入力と修復（損失あり） | 注2を参照 | 注2を参照 | A3オプション |
| 走査型電子顕微鏡 (4.2.6.4.3C) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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| 表面定量分析（4.2.6.4.3D）（非破壊） | 5ピース | 5ピース |
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| 熱のテスト |
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| Bレベル |
| 熱サイクル試験 (付録 C.2) | 全て | 全て |
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| 電気的特性の試験 |
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| Cレベル |
| 電気試験 (付録 C.3) | 116個 | 全て |
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| 老化試験 |
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| Dレベル |
| バーンイン試験（試験前および試験後）（付録 C.4） | 45個 | 45 個またはすべて (バッチ数量が 45 個未満) |
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| 気密性の確認（最小リーク量と最大リーク量） |
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| Eレベル |
| 気密性の確認（最小および最大漏れ率）（付録 C.5） | 全て | 全て |
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| 音響走査試験 |
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| Fレベル |
| 音響走査型顕微鏡 (付録 C.6) | ルールにより | ルールにより |
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| 他の |
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| Gレベル |
| その他の試験・検査 | ルールにより | ルールにより |
ノート：
1. 10 個未満のバッチの場合、コグニザント エンジニアは、テストの品質とお客様の同意を条件として、独自の裁量で、「損失のある」テストのサンプル サイズを 1 個に減らすことができます。
2. 再入力および改修テスト用のサンプルは、「外観テスト - 詳細テスト」のバッチから選択できます。
3. リードテストサンプルは「外観テスト～詳細テスト」のバッチから選択できます。
4. オープンカバーテストサンプルは、「打ち直しおよび再生テスト」が行われたバッチから選択できます。