試験と検査 | 最小サンプルサイズ | レベル |
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| バッチ数量は200個以上です | バッチ数量: 1 ~ 199 個 (注 1 を参照) |
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必要な検査 |
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| レベル |
契約テキストとカプセル化 |
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| A1 |
契約書の本文および包装の検査 (4.2.6.4.1) (非破壊) | 全て | 全て |
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外観検査 |
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| A2 |
a.全体 (4.2.6.4.2.1) (非破壊) | 全て | 全て |
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b.詳細 (4.2.6.4.2.2) (非破壊) | 122個 | 122個またはすべて(バッチ数量が122個未満) |
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再入力と修復(損失あり) | 注2を参照 | 注2を参照 | A3 |
タイピング用の溶媒テスト (4.2.6.4.3A) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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改修用の溶剤テスト (4.2.6.4.3B) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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X線検出 |
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| A4 |
X 線検出 (4.2.6.4.4) (非破壊) | 45個 | 45 個またはすべて (バッチ数量が 45 個未満) |
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鉛検出 (XRF または EDS/EDX) | 注3を参照 | 注3を参照 | A5 |
XRF (ロスレス) または EDS/EDX (ロッシー) (4.2.6.4.5) (付録 C.1) | 3個 | 3個 |
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オープンカバー内部解析(非可逆) | 注6を参照 | 注6を参照 | A6 |
オープンカバー (4.2.6.4.6) (損失あり) | 3個 | 3個 |
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追加のテスト (会社と顧客の両方が同意) |
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再入力と修復(損失あり) | 注2を参照 | 注2を参照 | A3オプション |
走査型電子顕微鏡 (4.2.6.4.3C) (非可逆) | 3個 | 3個 |
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表面定量分析(4.2.6.4.3D)(非破壊) | 5個 | 5個 |
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熱のテスト |
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| Bレベル |
熱サイクル試験 (付録 C.2) | 全て | 全て |
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電気的特性の試験 |
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| Cレベル |
電気試験 (付録 C.3) | 116個 | 全て |
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老化試験 |
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| Dレベル |
バーンイン試験(試験前および試験後)(付録 C.4) | 45個 | 45 個またはすべて (バッチ数量が 45 個未満) |
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気密性の確認(最小リーク量と最大リーク量) |
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| Eレベル |
気密性の確認(最小および最大漏れ率)(付録 C.5) | 全て | 全て |
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音響走査試験 |
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| Fレベル |
音響走査型顕微鏡 (付録 C.6) | ルールにより | ルールにより |
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他の |
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| Gレベル |
その他の試験・検査 | ルールにより | ルールにより |
注:
1. 10 個未満のバッチの場合、コグニザント エンジニアは、テストの品質とお客様の同意を条件として、独自の裁量で「損失のある」テストのサンプル サイズを 1 個に減らすことができます。
2. 再入力および改修テスト用のサンプルは、「外観テスト – 詳細テスト」のバッチから選択できます。
3. リードテストサンプルは「外観テスト~詳細テスト」のバッチから選択できます。
4. オープンカバーテストサンプルは、「打ち直しおよび再生テスト」が行われたバッチから選択できます。
投稿時間: 2023 年 7 月 8 日